舰船扰动双参平面检测法
文献类型：专利
| 作者 | 冯 锦 ; 朱敏慧 ; 陈永强 |
| 发表日期 | 2010-12-23 |
| 专利国别 | 中国 |
| 专利类型 | 发明 |
| 权利人 | 中国科学院电子学研究所 |
| 中文摘要 | 舰船扰动双参平面检测法.pdf |
| 公开日期 | 2006-02-01 ; 2010-12-23 |
| 申请日期 | 2004-07-30 |
| 语种 | 中文 |
| 专利申请号 | CN200410070109.9 |
| 专利代理 | 周国城 |
| 源URL | [http://159.226.65.12/handle/80137/4885]  |
| 专题 | 电子学研究所_微波成像技术国家级重点实验室_微波成像技术国家级重点实验室_专利 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 冯 锦,朱敏慧,陈永强 . 舰船扰动双参平面检测法. 2010-12-23. |
入库方式： OAI收割
来源：电子学研究所
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