Development of High Power Electron Beam Measuring and Analyzing System for Microwave Vacuum Electron Devices
文献类型:会议论文
作者 | Ruan CJ(阮存军) ; Wu XL(吴迅雷) ; Li QS(李庆生) |
出版日期 | 2011-06-08 |
会议名称 | 18th International Vacuum Congress |
会议日期 | 2010-08-23 |
会议地点 | 中国 |
通讯作者 | 阮存军 |
源URL | [http://159.226.65.12/handle/80137/7909] ![]() |
专题 | 电子学研究所_空间行波管研究发展中心_空间行波管研究发展中心_会议论文 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | Ruan CJ,Wu XL,Li QS. Development of High Power Electron Beam Measuring and Analyzing System for Microwave Vacuum Electron Devices[C]. 见:18th International Vacuum Congress. 中国. 2010-08-23. |
入库方式: OAI收割
来源:电子学研究所
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