基于两维压缩特征字分析的BIST性能分析
文献类型：期刊论文
| 作者 | 蔡晨曦，王秀坛，彭应宁 |
| 刊名 | 系统工程与电子技术
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| 出版日期 | 2001 |
| 卷号 | 23期号:9页码:1-4 |
| 关键词 | 信号处理 自检验 特征分析 故障安全设计 |
| ISSN号 | 1001-506X |
| 公开日期 | 2010-09-02 |
| 源URL | [http://159.226.65.12/handle/80137/3854]  |
| 专题 | 电子学研究所_航天微波遥感系统部_航天微波遥感系统部_期刊论文 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 蔡晨曦，王秀坛，彭应宁. 基于两维压缩特征字分析的BIST性能分析[J]. 系统工程与电子技术,2001,23(9):1-4. |
| APA | 蔡晨曦，王秀坛，彭应宁.(2001).基于两维压缩特征字分析的BIST性能分析.系统工程与电子技术,23(9),1-4. |
| MLA | 蔡晨曦，王秀坛，彭应宁."基于两维压缩特征字分析的BIST性能分析".系统工程与电子技术 23.9(2001):1-4. |
入库方式： OAI收割
来源：电子学研究所
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