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利用残余点优选InSAR干涉相位条纹图的研究

文献类型:期刊论文

作者陶鹍 ; 杨汝良
刊名电子与信息学报
出版日期2003
卷号25期号:9页码:1200-1205
关键词优选 干涉相位条纹图 残余点 配准精度
ISSN号1009-5896
公开日期2010-05-19
源URL[http://159.226.65.12/handle/80137/2441]  
专题电子学研究所_航空微波遥感系统部_航空微波遥感系统部_期刊论文
推荐引用方式
GB/T 7714
陶鹍,杨汝良. 利用残余点优选InSAR干涉相位条纹图的研究[J]. 电子与信息学报,2003,25(9):1200-1205.
APA 陶鹍,&杨汝良.(2003).利用残余点优选InSAR干涉相位条纹图的研究.电子与信息学报,25(9),1200-1205.
MLA 陶鹍,et al."利用残余点优选InSAR干涉相位条纹图的研究".电子与信息学报 25.9(2003):1200-1205.

入库方式: OAI收割

来源:电子学研究所

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