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一种分析二维平面左手结构的新方法

文献类型:期刊论文

作者李超 ; 刘开雨 ; 李芳
刊名电子学报
出版日期2007
卷号35期号:12页码:2262-2266
关键词二维平面左手结构 S参数 Bloch波数 Bloch阻抗 后向波
ISSN号0372-2112
公开日期2010-05-19
源URL[http://159.226.65.12/handle/80137/2973]  
专题电子学研究所_高功率微波与电磁辐射院重点实验室_高功率微波与电磁辐射院重点实验室_期刊论文
推荐引用方式
GB/T 7714
李超,刘开雨,李芳. 一种分析二维平面左手结构的新方法[J]. 电子学报,2007,35(12):2262-2266.
APA 李超,刘开雨,&李芳.(2007).一种分析二维平面左手结构的新方法.电子学报,35(12),2262-2266.
MLA 李超,et al."一种分析二维平面左手结构的新方法".电子学报 35.12(2007):2262-2266.

入库方式: OAI收割

来源:电子学研究所

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