一种分析二维平面左手结构的新方法
文献类型:期刊论文
作者 | 李超 ; 刘开雨 ; 李芳 |
刊名 | 电子学报
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出版日期 | 2007 |
卷号 | 35期号:12页码:2262-2266 |
关键词 | 二维平面左手结构 S参数 Bloch波数 Bloch阻抗 后向波 |
ISSN号 | 0372-2112 |
公开日期 | 2010-05-19 |
源URL | [http://159.226.65.12/handle/80137/2973] ![]() |
专题 | 电子学研究所_高功率微波与电磁辐射院重点实验室_高功率微波与电磁辐射院重点实验室_期刊论文 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 李超,刘开雨,李芳. 一种分析二维平面左手结构的新方法[J]. 电子学报,2007,35(12):2262-2266. |
APA | 李超,刘开雨,&李芳.(2007).一种分析二维平面左手结构的新方法.电子学报,35(12),2262-2266. |
MLA | 李超,et al."一种分析二维平面左手结构的新方法".电子学报 35.12(2007):2262-2266. |
入库方式: OAI收割
来源:电子学研究所
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