基于仅幅度检测的相位检波方法
文献类型：专利
| 作者 | 李廉林 ; 张文吉 ; 李 芳 |
| 发表日期 | 2010-12-24 |
| 专利国别 | 中国 |
| 专利类型 | 发明 |
| 权利人 | 中国科学院电子学研究所 |
| 中文摘要 | 本发明公开了一种基于仅幅度检测的相位检波方法，该方法包括：利用包络检波器测量两路信号的强度，分别表示为A12(t)和A22(t)；计算参考信号的实部s0r(t)和虚部s0i(t)以及幅度|a0(t)|；利用公式实现待复原信号的重建。利用本发明，实现了仅幅度检测的相位检波，解决了X射线结晶学、光学以及天文图像处理等领域中的相位复原方法需要先验信息的难题，并为无相位检测成像理论奠定了基础，从而可大大降低微波、太赫兹以及光学成像系统的硬件成本。 |
| 公开日期 | 2009-09-30 ; 2010-12-24 |
| 申请日期 | 2008-03-26 |
| 语种 | 中文 |
| 专利申请号 | CN200810102810.2 |
| 专利代理 | 周国城 |
| 源URL | [http://159.226.65.12/handle/80137/5453]  |
| 专题 | 电子学研究所_高功率微波与电磁辐射院重点实验室_高功率微波与电磁辐射院重点实验室_专利 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 李廉林,张文吉,李 芳 . 基于仅幅度检测的相位检波方法. 2010-12-24. |
入库方式： OAI收割
来源：电子学研究所
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