在非透明衬底上生长的磁性薄膜的透射MCD光谱的测量方法
文献类型：专利
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| 作者 | 贺振鑫; 刘奇; 吴元军; 纪晓晨 |
| 专利国别 | 中国 |
| 著作权人 | 中国科学院半导体研究所 |
| 专利类型 | 发明 |
| 国家 | 中国 |
| 文献子类 | 发明 |
| 权利人 | 中国科学院半导体研究所 |
| 学科主题 | 半导体物理 ; 半导体物理 |
| 公开日期 | 2014-05-21 ; 2014-05-21 |
| 申请日期 | 2014-02-28 ; 2014-02-28 |
| 专利申请号 | CN201410072762.2 |
| 源URL | [http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/25726]  |
| 专题 | 半导体研究所_半导体超晶格国家重点实验室 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 贺振鑫,刘奇,吴元军,等. 在非透明衬底上生长的磁性薄膜的透射MCD光谱的测量方法, 在非透明衬底上生长的磁性薄膜的透射MCD光谱的测量方法. |
入库方式： OAI收割
来源：半导体研究所
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