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栅控横向PNP双极晶体管基极电流峰值展宽效应及电荷分离研究
文献类型：期刊论文
| 作者 | 马武英; 王志宽; 陆妩 ; 席善斌; 郭旗; 何承发; 王信; 刘默寒; 姜柯
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| 刊名 | 物理学报
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| 出版日期 | 2014 |
| 卷号 | 63期号:11页码:226-231 |
| 关键词 | 栅控双极PNP晶体管 60 Coγ辐照 辐射损伤 GCLPNP BJTs 60Coγ irradiation ionizing damage |
| ISSN号 | 10003290 |
| 其他题名 | The base current broadening effect and charge separation method of gate-controlled lateral PNP bipolar transistors |
| 通讯作者 | Lu, W. |
| 中文摘要 | 为了对双极器件在电离辐射环境下的损伤机理及加固技术进行深入的研究，对设计制作的不同工艺类型的栅控横向PNP双极晶体管进行了60Co-γ低剂量率辐照试验。结果表明：1)栅控双极晶体管的辐射特性具有很强的工艺相关性，钝化层的存在对于双极晶体管的辐射响应具有很大影响，有钝化层的器件在电离辐射环境中会产生更多的界面态，其抗辐射能力大大减弱；2)针对国产栅控横向PNP晶体管在低剂量率辐照时会发生峰值电流展宽效应，文中对展宽效应潜在机理进行了分析，并针对展宽效应提出了新的分离方法。这不但对设计抗辐射加固器件提供了依据，而且为进一步深入研究双极器件的低剂量率辐射损伤增强效应提供了强有力工具。 |
| 英文摘要 | In order to study the total dose effect and hardness assurance technology for the bipolar devices, we have designed and fabricated different gate-controlled lateral PNP bipolar transistors by various technologies, and preformed 60Coγ low-dose rate irradiation. The test results show that: 1) Irradiation characteristics of the gate-controlled bipolar transistor are strongly dependent on the fabrication technology, and the passivation layer has a great influence on the irradiation response of the device. The device with a passivation layer will have more interface traps in ionizing radiation environments, and its resistance to ionizing irradiation is greatly weakened. 2) A domestic gated-controlled lateral PNP transistor exhibited a peak current broadening effect at low-dose rate irradiation. In this paper, we analyze the mechanism of the broadening effect, and put forward a new separation method for reducing the base current broadening effect, which not only provides the basis for the design of hardened devices, but also a powerful tool for the study of the enhanced low-dose rate sensitivity of the bipolar device. |
| 收录类别 | SCI |
| CSCD记录号 | CSCD:5164265 |
| 公开日期 | 2014-11-11 |
| 源URL | [http://ir.xjipc.cas.cn/handle/365002/3688]  |
| 专题 | 新疆理化技术研究所_中国科学院特殊环境功能材料与器件重点试验室 新疆理化技术研究所_材料物理与化学研究室 |
| 作者单位 | 中国科学院特殊环境功能材料与器件重点实验室； 新疆电子信息材料与器件重点实验室； 中国科学院新疆理化技术研究所； 中国科学院大学； 模拟集成电路国家重点实验室； 中国电子科技集团公司第24研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 马武英,王志宽,陆妩,等. 栅控横向PNP双极晶体管基极电流峰值展宽效应及电荷分离研究[J]. 物理学报,2014,63(11):226-231. |
| APA | 马武英.,王志宽.,陆妩.,席善斌.,郭旗.,...&姜柯.(2014).栅控横向PNP双极晶体管基极电流峰值展宽效应及电荷分离研究.物理学报,63(11),226-231. |
| MLA | 马武英,et al."栅控横向PNP双极晶体管基极电流峰值展宽效应及电荷分离研究".物理学报 63.11(2014):226-231. |
入库方式： OAI收割
来源：新疆理化技术研究所
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