基于Scrubbing的空间SRAM型FPGA抗单粒子翻转系统设计
文献类型：期刊论文
| 作者 | 马寅; 安军社; 王连国; 孙伟 |
| 刊名 | 空间科学学报
 |
| 出版日期 | 2012 |
| 卷号 | 32期号:2页码:270-276 |
| 关键词 | 单粒子翻转(SEU) 三模冗余(TMR) 刷新(Scrubbing) FPGA容错 |
| ISSN号 | 0254-6124 |
| 其他题名 | SEU-tolerant System Design of SRAM FPGA Based on Scrubbing in Aerospace |
| 通讯作者 | myxy1230@yahoo.cn |
| 中文摘要 | 基于SRAM工艺的FPGA在空间环境下容易受到单粒子翻转(Single Event Upsets,SEU)的影响而导致信息丢失或功能中断.在详细讨论三模冗余(Triple Modular Redundancy,TMR)和刷新(Scrubbing)的重要原理及实现细节的基础上,实现了一种高可靠性、TMR+Scrubbing+Reload的容错系统设计,用反熔丝型FPGA对SRAM型FPGA的配置数据进行毫秒级周期刷新,同时对两个FPGA均做TMR处理.该容错设计已实际应用于航天器电子系统,可为高可靠性电子系统设计提供参考. |
| 英文摘要 | Aerospace and extra-terrestrial applications on SRAM FPGA are sensitive to SEU which might result in information loss or functional interruption.In this paper,a detailed introduction to TMR and Scrubbing,which are the significant techniques of this design,was given;then,a highly reliable fault-tolerant system based on TMR,Scrubbing and Reload rules was implemented.An anti-fuse FPGA periodically scrubbed the configuration bitstream of SRAM FPGA in milliseconds level,and both FPGAs implemented triple module design redundancy.This fault-tolerant design has been adopted in an actual spacecraft electronic system,which can make reference to the design of highly reliable electronic systems. |
| 学科主题 | 空间技术 |
| 收录类别 | CSCD |
| 语种 | 中文 |
| CSCD记录号 | CSCD:4504081 |
| 公开日期 | 2014-12-15 |
| 源URL | [http://ir.nssc.ac.cn/handle/122/2993]  |
| 专题 | 国家空间科学中心_空间技术部 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 马寅,安军社,王连国,等. 基于Scrubbing的空间SRAM型FPGA抗单粒子翻转系统设计[J]. 空间科学学报,2012,32(2):270-276. |
| APA | 马寅,安军社,王连国,&孙伟.(2012).基于Scrubbing的空间SRAM型FPGA抗单粒子翻转系统设计.空间科学学报,32(2),270-276. |
| MLA | 马寅,et al."基于Scrubbing的空间SRAM型FPGA抗单粒子翻转系统设计".空间科学学报 32.2(2012):270-276. |
入库方式： OAI收割
来源：国家空间科学中心
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