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XUV掠入射凹面光栅摄谱仪

文献类型:成果

主要完成人苗春安 ; 苗春安 ; 马仁宏 ; 苏桂云 ; 翁志成 ; 米宝永
获奖日期1989-11
获奖类别中科院科技进步奖
获奖等级二等奖
关键词光栅摄谱仪
中文摘要该课题用在LF12激光器上开展模拟核爆及X光激光研究。主要指标:波长范围1.5-30nm、分辩率0.008nm、掠入射再2及4可调、暗盒10及20cm两种。XUV光谱界于软X 线和真空紫外光谱之间,光学设计加工测量及光源探测技术标定等都十分困难而复杂。仪器采用超环面镜--凹面光栅系统较好解决了掠入射系统象散问题。该课题1989年获院科技进步二等奖。
语种中文
源URL[http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/41635]  
专题长春光学精密机械与物理研究所_中科院长春光机所知识产出_成果
推荐引用方式
GB/T 7714
苗春安,苗春安,马仁宏,等. XUV掠入射凹面光栅摄谱仪. 中科院科技进步奖:二等奖. 1989.

入库方式: OAI收割

来源:长春光学精密机械与物理研究所

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