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薄膜测量光谱仪的研制、总结及鉴定

文献类型:成果

主要完成人陈奋飞 ; 刑忠宝 ; 薛传海 ; 周秀良 ; 王在昌 ; 王占青 ; 王惠芳 ; 乔燕燕
获奖日期1989
获奖类别长春分院科技进步奖; 1987年获电子部三等奖
获奖等级一等奖
关键词薄膜测量 光谱仪
中文摘要研制了薄膜测量光谱仪。该仪器由单色仪、电子学系统、光度计、微处理机及X-Y记录仪组成,配有透过率测量附件,绝对法反射率测量附件及比较法反射率测量附件。它采用双光路分光光度计的原理,多次发射材料反射率的原理及比较法材料反射率的原理,配有专用计算机和X-Y记录仪;各种参数均可自动扫描测量,自动打印测量结果及描绘光谱曲线。
语种中文
源URL[http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/41640]  
专题长春光学精密机械与物理研究所_中科院长春光机所知识产出_成果
推荐引用方式
GB/T 7714
陈奋飞,刑忠宝,薛传海,等. 薄膜测量光谱仪的研制、总结及鉴定. 长春分院科技进步奖; 1987年获电子部三等奖:一等奖. 1989.

入库方式: OAI收割

来源:长春光学精密机械与物理研究所

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