60进制光中圆分度检验仪
文献类型：成果
| 主要完成人 | 朱应 ; 周世红 ; 杨 ; 李赫忠 ; 孙承浦 ; 赵秀文 ; 孙自力 ; 张太等 |
| 获奖日期 | 1981-11 |
| 获奖类别 | 中国科学院科技成果奖 |
| 获奖等级 | 一等奖 |
| 关键词 | 光栅检验 |
| 中文摘要 | 光学度型，因光栅两种线纹圆分元件，广泛使用于大地测量，精密测试，精密计量机床以及国防尖端技术等方面的仪器和设备中。这两种精密刻划圆分度件的分度误差是衡量其优劣的主要指标，因此测试圆分度误差对研制和使用这两种圆分度件是不可缺少的。60进制光电圆分度检验仪，就是用来检测光学度盘圆光栅等分度元件的分度误差的仪器，仪器的主轴上装有一块高精度大圆光栅，用光头平均原理获得精度更高的莫尔条纹光电信号。这种信号的精度了比单根刻线的精度高得多。光电莫尔条纹信号经过往往训 的电子学细分线分400等分，获得0.05″数字量化信息，这就是圆分度基准信号。由于以上高精度光栅为基 并用了相位简单的细分，动态光电显微镜等新术，既能动态检测圆光栅，又能动态检测光学度盘，测量迅速，读数稳定，精度高，仪器有自检系统，保证了仪器可靠地工作。经专家鉴定，该仪器的精度和性能达到了国内外同类仪器的先进水平。特别是能动态检测光学度盘的第条在线系国内首创。 |
| 语种 | 中文 |
| 源URL | [http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/41753]  |
| 专题 | 长春光学精密机械与物理研究所_中科院长春光机所知识产出_成果 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 朱应,周世红,杨,等. 60进制光中圆分度检验仪. 中国科学院科技成果奖:一等奖. 1981. |
入库方式： OAI收割
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