Off-Line Temperature Profiling Utilising Phosphorescent Thermal History Paints and Coatings
文献类型：会议论文
| 作者 | J. P. Feist ; S. Kamaker Biswas ; C. Pilgrim ; P. Y. Sollazzo ; S. Berthier |
| 出版日期 | 2014 |
| 会议名称 | ASME |
| 会议日期 | 2014 |
| 学科主题 | Controls, Diagnostics and Instrumentation |
| 源URL | [http://ir.etp.ac.cn/handle/311046/94585]  |
| 专题 | 工程热物理研究所_国际学术会议论文_A_会议论文 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | J. P. Feist,S. Kamaker Biswas,C. Pilgrim,et al. Off-Line Temperature Profiling Utilising Phosphorescent Thermal History Paints and Coatings[C]. 见:ASME. 2014. |
入库方式： OAI收割
来源：工程热物理研究所
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