利用硅雪崩二极管检测激光脉冲信号
文献类型：期刊论文
| 作者 | 郭冠军,李树楷 |
| 刊名 | 中国激光
 |
| 出版日期 | 2002 |
| 期号 | 6页码:541-544 |
| 关键词 | 硅雪崩二极管 探测概率 虚警概率 |
| 中文摘要 | 研究了用雪崩二极管 (SiAPD)检测激光脉冲回波信号的统计特性 ,分析了激光测距系统的探测概率、虚警概率和漏探测概率与系统参数及检测电路所设阈值的关系。阈值的选取对系统的探测性能有很大影响 ,对实际系统的计算表明 ,回波产生的初级光电子数和SiAPD的平均增益决定了阈值的选取区间。 |
| 收录类别 | CNKI |
| 语种 | 中文 |
| 公开日期 | 2015-01-05 |
| 源URL | [http://ir.ceode.ac.cn/handle/183411/34633]  |
| 专题 | 遥感与数字地球研究所_中文期刊论文_期刊论文 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 郭冠军,李树楷. 利用硅雪崩二极管检测激光脉冲信号[J]. 中国激光,2002(6):541-544. |
| APA | 郭冠军,李树楷.(2002).利用硅雪崩二极管检测激光脉冲信号.中国激光(6),541-544. |
| MLA | 郭冠军,李树楷."利用硅雪崩二极管检测激光脉冲信号".中国激光 .6(2002):541-544. |
入库方式： OAI收割
来源：遥感与数字地球研究所
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