Cycled Thermomechanical Failure in 808-nm High-Power AlGaAs/GaAs Laser Diode Bars
文献类型：期刊论文
| 作者 | Qiao, YB ; Feng, SW ; Zhang, GC ; Xiong, C ; Zhu, H ; Guo, CS |
| 刊名 | ieee transactions on electron devices
 |
| 出版日期 | 2014 |
| 卷号 | 61期号:8页码:2854-2858 |
| 学科主题 | 半导体器件 |
| 收录类别 | SCI |
| 语种 | 英语 |
| 公开日期 | 2015-02-06 |
| 源URL | [http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/25947]  |
| 专题 | 半导体研究所_光电子器件国家工程中心 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | Qiao, YB,Feng, SW,Zhang, GC,et al. Cycled Thermomechanical Failure in 808-nm High-Power AlGaAs/GaAs Laser Diode Bars[J]. ieee transactions on electron devices,2014,61(8):2854-2858. |
| APA | Qiao, YB,Feng, SW,Zhang, GC,Xiong, C,Zhu, H,&Guo, CS.(2014).Cycled Thermomechanical Failure in 808-nm High-Power AlGaAs/GaAs Laser Diode Bars.ieee transactions on electron devices,61(8),2854-2858. |
| MLA | Qiao, YB,et al."Cycled Thermomechanical Failure in 808-nm High-Power AlGaAs/GaAs Laser Diode Bars".ieee transactions on electron devices 61.8(2014):2854-2858. |
入库方式： OAI收割
来源：半导体研究所
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