Finite difference method for analyzing band structure in semiconductor heterostructures without spurious solutions
文献类型：期刊论文
| 作者 | Jiang, Yu ; Ma, Xunpeng ; Xu, Yun ; Song, Guofeng |
| 刊名 | journal of applied physics
 |
| 出版日期 | 2014 |
| 卷号 | 116期号:17页码:173702 |
| 学科主题 | 半导体材料 |
| 收录类别 | SCI |
| 语种 | 英语 |
| 公开日期 | 2015-03-01 |
| 源URL | [http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/25950]  |
| 专题 | 半导体研究所_纳米光电子实验室 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | Jiang, Yu,Ma, Xunpeng,Xu, Yun,et al. Finite difference method for analyzing band structure in semiconductor heterostructures without spurious solutions[J]. journal of applied physics,2014,116(17):173702. |
| APA | Jiang, Yu,Ma, Xunpeng,Xu, Yun,&Song, Guofeng.(2014).Finite difference method for analyzing band structure in semiconductor heterostructures without spurious solutions.journal of applied physics,116(17),173702. |
| MLA | Jiang, Yu,et al."Finite difference method for analyzing band structure in semiconductor heterostructures without spurious solutions".journal of applied physics 116.17(2014):173702. |
入库方式： OAI收割
来源：半导体研究所
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