绝对位置测量装置1
文献类型：专利
| 作者 | 孙强
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| 发表日期 | 2014-06-11 |
| 专利国别 | 中国 |
| 专利号 | 201210090799.9 |
| 专利类型 | 发明 |
| 权利人 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
| 中文摘要 | 绝对位置测量装置，属于光电测量技术领域，为了解决现有绝对式测量中存在的抗污染能力差，对光学系统要求高的技术问题，本发明装置包括：保护介质、绝对位置条纹、发光器、凸透镜、光电传感器和位置读出模块，所述绝对位置条纹设置在保护介质内部，所述绝对位置条纹所在的平面与凸透镜主光轴垂直，所述光电传感器所在平面与凸透镜主光轴垂直；所述发光器发出的光线透过保护介质入射到绝对位置条纹上，光线经过绝对位置条纹反射，反射光通过凸透镜在光电传感器上成像，位置读出模块与光电传感器连接。本发明绝对位置测量装置在数控机床加工行业具有广阔的应用空间。 |
| 是否PCT专利 | 是 |
| 公开日期 | 2014-06-11 |
| 语种 | 中文 |
| 专利证书号 | 1416547 |
| 专利申请号 | 201210090799.9 |
| 专利代理 | 南小平 |
| 源URL | [http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/42045]  |
| 专题 | 长春光学精密机械与物理研究所_中科院长春光机所知识产出 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 孙强. 绝对位置测量装置1. 201210090799.9. 2014-06-11. |
入库方式： OAI收割
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