高精度光学元件面形检测工装夹具
文献类型：专利
| 作者 | 王汝冬 ; 田伟; 隋永新; 王平
|
| 发表日期 | 2014-07-09 |
| 专利国别 | 中国 |
| 专利号 | 201210199493.7 |
| 专利类型 | 发明 |
| 权利人 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
| 中文摘要 | 高精度光学元件面形检测工装夹具，特别涉及于深紫外投影光刻物镜系统光学元件纳米级面形检测的工装夹具。本发明目的在于解决深紫外投影光刻物镜系统光学元件纳米级面形检测与光学加工中面形精修工艺迭代过程中的高精度重复装卡问题，本发明工装夹具，包括：夹具框架，三个微分调节头，三个主支撑单元，被检测镜片，九个辅助支撑单元，三个主支撑单元呈120°分布，九个辅助支撑单元与三个主支撑单元呈30°分布，夹具框架通过线切割加工出三个挠性狭缝，挠性狭缝将夹具框架分割为外框和三个呈120°均布的挠性内环，三个微分头调节器通过微分头调节器锁紧螺钉分别固定于夹具框架的三个挠性内环上，本装置具有高精度高重复性的特点。 |
| 是否PCT专利 | 是 |
| 公开日期 | 2014-07-09 |
| 语种 | 中文 |
| 专利证书号 | 1439808 |
| 专利申请号 | 201210199493.7 |
| 专利代理 | 张伟 |
| 源URL | [http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/42078]  |
| 专题 | 长春光学精密机械与物理研究所_中科院长春光机所知识产出 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 王汝冬,田伟,隋永新,等. 高精度光学元件面形检测工装夹具. 201210199493.7. 2014-07-09. |
入库方式： OAI收割
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