中阶梯光栅光谱仪、原子发射光谱仪及光谱测试方法
文献类型：专利
| 作者 | 陈少杰 宁春丽 崔继承 巴音贺希格 齐向东 唐玉国 |
| 发表日期 | 2014-08-20 |
| 专利国别 | 中国 |
| 专利号 | 201210310554.2 |
| 专利类型 | 发明 |
| 权利人 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
| 中文摘要 | 本发明涉及一种中阶梯光栅光谱仪、基于中阶梯光栅光谱仪的原子发射光谱仪、及原子发射光谱仪进行光谱测试的方法。本发明采用中阶梯光栅作为主色散元件；光源发出的光线经聚光镜聚焦在入射针孔，入射针孔出射光束经准直镜准直后入射到中阶梯光栅进行主色散，然后入射到交叉色散棱镜进行横向色散，交叉色散后经聚焦镜成像在CCD的像面上；通过改变交叉色散棱镜的入射角度，实现了200nm-900nm波段范围内的快速测量，具有宽波段、高分辨率、高灵敏度、低噪声、小体积的优点。实验结果表明本发明测试简便、灵敏度高、试样消耗量少、可实现宽波段多元素的快速测量。 |
| 是否PCT专利 | 是 |
| 公开日期 | 2014-08-20 |
| 语种 | 中文 |
| 专利证书号 | 1465305 |
| 专利申请号 | 201210310554.2 |
| 专利代理 | 王淑秋 |
| 源URL | [http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/42088]  |
| 专题 | 长春光学精密机械与物理研究所_中科院长春光机所知识产出 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 陈少杰 宁春丽 崔继承 巴音贺希格 齐向东 唐玉国. 中阶梯光栅光谱仪、原子发射光谱仪及光谱测试方法. 201210310554.2. 2014-08-20. |
入库方式： OAI收割
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