移位测量装置
文献类型：专利
| 作者 | 曾琪峰 孙强 李也凡 张立华 甘泽龙 |
| 发表日期 | 2014-11-19 |
| 专利国别 | 中国 |
| 专利号 | 201210088557.6 |
| 专利类型 | 发明 |
| 权利人 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
| 中文摘要 | 移位测量装置，涉及一种移位测量装置，为进一步提高信号的平均作用，需要在同样的探测单元数量的情况下，包含更多的探测周期，尽量在设计体积要求更小，或者光源的光斑所占的面积较小等制约下提高信号质量，包括标准光栅和光电读数头，光电读数头包括光源、指示光栅、光电接收单元和信号处理电路。光电接收单元由多个探测单元组成，多个探测单元组成探测单元阵列，并分成三个组，同相位的探测单元属于同一个组，同一个组的探测单元是相互连接的。光电接收单元探测至少一个周期性扫描信号。该光源发出入射光线，经由该扫描掩膜和该标准光栅调制，该光电接收单元接收经过调制的光信号。本发明所述的移位测量装置能有效提高信号的抗污染能力。 |
| 是否PCT专利 | 是 |
| 公开日期 | 2014-11-19 |
| 语种 | 中文 |
| 专利证书号 | 1521866 |
| 专利申请号 | 201210088557.6 |
| 专利代理 | 陶尊新 |
| 源URL | [http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/42119]  |
| 专题 | 长春光学精密机械与物理研究所_中科院长春光机所知识产出 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 曾琪峰 孙强 李也凡 张立华 甘泽龙. 移位测量装置. 201210088557.6. 2014-11-19. |
入库方式： OAI收割
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