Finite difference method for analyzing band structure in semiconductor heterostructures without spurious solutions
文献类型：期刊论文
| 作者 | Yu Jiang (江宇) ; Xunpeng Ma (马勋鹏) ; Yun Xu (徐云) ; Guofeng Song (宋国峰) |
| 刊名 | journal of applied physics
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| 出版日期 | 2014 |
| 卷号 | 116期号:17页码:173702 |
| 学科主题 | 半导体物理 ; 半导体材料 ; 半导体器件 ; 光电子学 |
| 公开日期 | 2015-03-16 |
| 源URL | [http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/25953]  |
| 专题 | 半导体研究所_纳米光电子实验室 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | Yu Jiang ,Xunpeng Ma ,Yun Xu ,et al. Finite difference method for analyzing band structure in semiconductor heterostructures without spurious solutions[J]. journal of applied physics,2014,116(17):173702. |
| APA | Yu Jiang ,Xunpeng Ma ,Yun Xu ,&Guofeng Song .(2014).Finite difference method for analyzing band structure in semiconductor heterostructures without spurious solutions.journal of applied physics,116(17),173702. |
| MLA | Yu Jiang ,et al."Finite difference method for analyzing band structure in semiconductor heterostructures without spurious solutions".journal of applied physics 116.17(2014):173702. |
入库方式： OAI收割
来源：半导体研究所
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