Crystal Quality Improvement of GeSn Alloys by Thermal Annealing
文献类型:期刊论文
; | |
作者 | Zhang, X; Zhang, DL; Cheng, BW; Liu, Z; Zhang, GZ; Xue, CL; Wang, QM |
刊名 | ecs solid state letters
![]() ![]() |
出版日期 | 2014 ; 2014 |
卷号 | 3期号:10页码:p127-p130 |
学科主题 | 光电子学 ; 光电子学 |
收录类别 | SCI |
语种 | 英语 ; 英语 |
公开日期 | 2015-03-25 ; 2015-03-25 |
源URL | [http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/26154] ![]() |
专题 | 半导体研究所_光电子研究发展中心 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | Zhang, X,Zhang, DL,Cheng, BW,et al. Crystal Quality Improvement of GeSn Alloys by Thermal Annealing, Crystal Quality Improvement of GeSn Alloys by Thermal Annealing[J]. ecs solid state letters, ECS SOLID STATE LETTERS,2014, 2014,3, 3(10):p127-p130, P127-P130. |
APA | Zhang, X.,Zhang, DL.,Cheng, BW.,Liu, Z.,Zhang, GZ.,...&Wang, QM.(2014).Crystal Quality Improvement of GeSn Alloys by Thermal Annealing.ecs solid state letters,3(10),p127-p130. |
MLA | Zhang, X,et al."Crystal Quality Improvement of GeSn Alloys by Thermal Annealing".ecs solid state letters 3.10(2014):p127-p130. |
入库方式: OAI收割
来源:半导体研究所
浏览0
下载0
收藏0
其他版本
除非特别说明,本系统中所有内容都受版权保护,并保留所有权利。