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Fabrication and characterization of deep ridge InGaAsP/InP light emitting transistors

文献类型:期刊论文

作者Huo, WJ ; Liang, S ; Zhang, C ; Tan, SY ; Han, LS ; Xie, HY ; Zhu, HL ; Wang, W
刊名optics express
出版日期2014
卷号22期号:2页码:1806-1814
学科主题半导体材料
收录类别SCI
语种英语
公开日期2015-04-02
源URL[http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/26356]  
专题半导体研究所_中科院半导体材料科学重点实验室
推荐引用方式
GB/T 7714
Huo, WJ,Liang, S,Zhang, C,et al. Fabrication and characterization of deep ridge InGaAsP/InP light emitting transistors[J]. optics express,2014,22(2):1806-1814.
APA Huo, WJ.,Liang, S.,Zhang, C.,Tan, SY.,Han, LS.,...&Wang, W.(2014).Fabrication and characterization of deep ridge InGaAsP/InP light emitting transistors.optics express,22(2),1806-1814.
MLA Huo, WJ,et al."Fabrication and characterization of deep ridge InGaAsP/InP light emitting transistors".optics express 22.2(2014):1806-1814.

入库方式: OAI收割

来源:半导体研究所

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