X-ray Imaging for Non-Destructive Microstructure Analysis at SSRF
文献类型：期刊论文
| 作者 | Chen, RC ; Liu, P ; Xiao, TQ ; Xu, LX |
| 刊名 | ADVANCED MATERIALS
 |
| 出版日期 | 2014 |
| 卷号 | 26期号:46页码:7688—7691 |
| 关键词 | SYNCHROTRON-RADIATION COMPUTED-TOMOGRAPHY PHASE RETRIEVAL ANGIOGRAPHY DISTANCE |
| ISSN号 | 0935-9648 |
| 通讯作者 | tqxiao@sinap.ac.cn ; lisaxu@sjtu.edu.cn |
| 收录类别 | SCI |
| 语种 | 英语 |
| 公开日期 | 2015-03-13 |
| 源URL | [http://ir.sinap.ac.cn/handle/331007/14570]  |
| 专题 | 上海应用物理研究所_中科院上海应用物理研究所2011-2017年 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | Chen, RC,Liu, P,Xiao, TQ,et al. X-ray Imaging for Non-Destructive Microstructure Analysis at SSRF[J]. ADVANCED MATERIALS,2014,26(46):7688—7691. |
| APA | Chen, RC,Liu, P,Xiao, TQ,&Xu, LX.(2014).X-ray Imaging for Non-Destructive Microstructure Analysis at SSRF.ADVANCED MATERIALS,26(46),7688—7691. |
| MLA | Chen, RC,et al."X-ray Imaging for Non-Destructive Microstructure Analysis at SSRF".ADVANCED MATERIALS 26.46(2014):7688—7691. |
入库方式： OAI收割
来源：上海应用物理研究所
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