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X-ray CCD165-SX探测器快速数据采集

文献类型:期刊论文

作者柳义 ; 周平
刊名核电子学与探测技术
出版日期2014
期号3页码:396-399
关键词X射线电荷耦合探测器 快速数据采集 帧移模式 TTL信号发生器
中文摘要对X光探测器X-ray CCD165-SX在帧移模式下进行数据采集。选择合适开口高度的掩膜,使得CCD的曝光面仅是整个探测面的一小部份。利用TTL信号发生器产生的脉冲信号触发子潜像帧移,将各个不同时间内产生的子潜像储存在CCD的芯片上不同位置上,当芯片填满子潜像时,一次性读出。这种方式大大加快了实验数据的采集速度。实验中对快速升温的情况下对PE样品进行测试,成功地采集到了随时间快速变化的散射信号。
收录类别CNKI
语种中文
公开日期2015-03-13
源URL[http://ir.sinap.ac.cn/handle/331007/14604]  
专题上海应用物理研究所_中科院上海应用物理研究所2011-2017年
推荐引用方式
GB/T 7714
柳义,周平. X-ray CCD165-SX探测器快速数据采集[J]. 核电子学与探测技术,2014(3):396-399.
APA 柳义,&周平.(2014).X-ray CCD165-SX探测器快速数据采集.核电子学与探测技术(3),396-399.
MLA 柳义,et al."X-ray CCD165-SX探测器快速数据采集".核电子学与探测技术 .3(2014):396-399.

入库方式: OAI收割

来源:上海应用物理研究所

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