光子计数探测器感应位敏阳极的电子云扩散
文献类型：期刊论文
| 作者 | 陈波 ; 尼启良; 张宏吉
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| 刊名 | 光学精密工程
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| 出版日期 | 2014-07-14 |
| 期号 | 7页码:1732-1736 |
| 关键词 | 极紫外成像 光子计数探测器 感应位敏阳极 Ge膜电阻 电子云扩散 |
| 中文摘要 | 针对基于感应位敏阳极的光子计数成像探测器中非晶态Ge(α-Ge)膜的方块电阻对探测器成像性能的影响,研究了方块电阻的选配范围和方法。由于方块电阻的大小会影响Ge膜上的电子云的扩散特性从而影响探测器的计数率和分辨率,故本文根据菲克(Fick)扩散定律分析了吸收边界条件下非晶态薄膜上电子云的扩散特性。确定了电子云扩散时间与Ge膜方块电阻之间的数学关系,推导获得了探测器高质量成像时非晶态Ge膜方块电阻的阻值为30～2 700MΩ/□。采用具有不同方块电阻的感应位敏阳极进行了实际成像实验,结果表明:当Ge膜方块电阻在上述范围时,光子计数探测器在计数率为53kc/s时分辨率可以达到0.5mm。实验结果证明了推导得出的方块电阻选配范围的正确性。 |
| 语种 | 中文 |
| 公开日期 | 2015-05-27 |
| 源URL | [http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/42918]  |
| 专题 | 长春光学精密机械与物理研究所_中科院长春光机所知识产出 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 陈波,尼启良,张宏吉. 光子计数探测器感应位敏阳极的电子云扩散[J]. 光学精密工程,2014(7):1732-1736. |
| APA | 陈波,尼启良,&张宏吉.(2014).光子计数探测器感应位敏阳极的电子云扩散.光学精密工程(7),1732-1736. |
| MLA | 陈波,et al."光子计数探测器感应位敏阳极的电子云扩散".光学精密工程 .7(2014):1732-1736. |
入库方式： OAI收割
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