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基于双Schwarzschild结构的平面光栅光谱仪

文献类型:期刊论文

作者薛庆生; 曹佃生
刊名光学精密工程
出版日期2014-09-14
期号9页码:2321-2328
关键词光学设计 平面光栅光谱仪 Schwarzschild结构 高光谱成像仪
中文摘要为了满足高分辨率大相对孔径宽波段高光谱成像仪的要求,提出并设计了一种基于双Schwarzschild结构的平面光栅光谱仪。基于几何像差理论,推导出了像散校正条件,利用Matlab软件编制了初始结构参数快速计算程序。作为实例,设计了一个相对孔径为1/2.5,波段为350~1 000nm的平面光栅光谱仪光学系统。利用自己编制的Matlab程序计算了初始结构参数,然后利用光学设计软件ZEMAX-EE对该光谱仪的光学系统进行了光线追迹和优化设计,并对设计结果进行分析。结果表明,在整个工作波段(350~1 000nm)内,点列图半径均方根值小于8.2μm,实现了大相对孔径宽波段像散同时校正,在宽波段内同时获得了良好的成像质量,满足了设计指标要求。所提出的基于双Schwarzschild结构的平面光栅光谱仪在高光谱遥感领域很有应用前景。
语种中文
公开日期2015-05-27
源URL[http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/43041]  
专题长春光学精密机械与物理研究所_中科院长春光机所知识产出
推荐引用方式
GB/T 7714
薛庆生,曹佃生. 基于双Schwarzschild结构的平面光栅光谱仪[J]. 光学精密工程,2014(9):2321-2328.
APA 薛庆生,&曹佃生.(2014).基于双Schwarzschild结构的平面光栅光谱仪.光学精密工程(9),2321-2328.
MLA 薛庆生,et al."基于双Schwarzschild结构的平面光栅光谱仪".光学精密工程 .9(2014):2321-2328.

入库方式: OAI收割

来源:长春光学精密机械与物理研究所

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