应用于高性能光学薄膜表征的光热光声检测技术
文献类型：期刊论文
| 作者 | 武潇野 ; 时光; 张立超
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| 刊名 | 中国光学
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| 出版日期 | 2014-10-15 |
| 期号 | 5页码:701-711 |
| 关键词 | 光热方法 光声法 激光量热法 激光辐照 检测技术 |
| 中文摘要 | 本文介绍了光热与光声探测技术的基本原理,结合光学薄膜的吸收测试、光学薄膜的激光辐照特性表征、激光损伤特性表征以及光学薄膜的机械性质表征等各种具体应用,对激光量热法、光热偏转法、表面声波法等典型的光热、光声检测方法进行了分析;阐述了这些方法的测试原理以及各自优势与不足。介绍了该领域利用这些方法取得的一些成果,并就光声光热检测技术的发展趋势做了展望。 |
| 语种 | 中文 |
| 公开日期 | 2015-05-27 |
| 源URL | [http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/43414]  |
| 专题 | 长春光学精密机械与物理研究所_中科院长春光机所知识产出 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 武潇野,时光,张立超. 应用于高性能光学薄膜表征的光热光声检测技术[J]. 中国光学,2014(5):701-711. |
| APA | 武潇野,时光,&张立超.(2014).应用于高性能光学薄膜表征的光热光声检测技术.中国光学(5),701-711. |
| MLA | 武潇野,et al."应用于高性能光学薄膜表征的光热光声检测技术".中国光学 .5(2014):701-711. |
入库方式： OAI收割
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