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根据环境温度进行红外成像系统漂移补偿

文献类型:期刊论文

作者余毅 ; 王旻 ; 常松涛 ; 姜会林
刊名光学学报
出版日期2014-10-10
期号10页码:42-47
关键词成像系统 辐射测量 漂移 环境温度 杂散辐射 积分时间
中文摘要采用红外成像系统进行目标辐射特性测量时,环境温度变化引起的输出灰度漂移是一项重要的误差来源。通过研究环境温度对制冷型红外成像系统输出灰度的影响机理,提出了一种直接根据环境温度对输出灰度漂移进行补偿的方法。分析了红外成像系统灰度漂移来源,推导了漂移量与环境温度的函数关系,建立了理论模型,并在此基础上提出一种简便的漂移修正方法。通过辐射定标实验对该方法的有效性进行验证,结果表明,提出的方法不仅保证了红外系统测量精度,而且在系统线性响应范围内可以直接通过计算实现任意积分时间下的漂移补偿,提高了辐射定标和测量效率。
语种中文
公开日期2015-05-27
源URL[http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/43455]  
专题长春光学精密机械与物理研究所_中科院长春光机所知识产出
推荐引用方式
GB/T 7714
余毅,王旻,常松涛,等. 根据环境温度进行红外成像系统漂移补偿[J]. 光学学报,2014(10):42-47.
APA 余毅,王旻,常松涛,&姜会林.(2014).根据环境温度进行红外成像系统漂移补偿.光学学报(10),42-47.
MLA 余毅,et al."根据环境温度进行红外成像系统漂移补偿".光学学报 .10(2014):42-47.

入库方式: OAI收割

来源:长春光学精密机械与物理研究所

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