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面阵CCD光谱响应测试及不确定度评估

文献类型:期刊论文

作者李晓杰 ; 任建伟 ; 刘洪兴 ; 万志
刊名激光与光电子学进展
出版日期2014-11-10
期号11页码:146-153
关键词测量 面阵CCD 光谱响应 不确定度
中文摘要基于单色仪法对面阵CCD进行光谱响应测试,并对测试结果的不确定度进行全面评估。介绍单色仪法测试CCD光谱响应的原理;选用硅陷阱探测器作为标准探测器,搭建测试装置,得出400~1000 nm波段内面阵CCD光谱特性参量,其中峰值波长为602 nm,中心波长为580 nm,光谱带宽为402 nm;以632 nm处光谱响应测试为例,建立不确定度评估模型,分析了包括面阵CCD辐照度响应非均匀性、溴钨灯稳定性、单色仪出射波长重复性和准确度以及图像采集处理系统的稳定性对测试的影响。应用模型计算得出测试结果的合成标准不确定度为4.3%(k=1),满足面阵CCD光谱响应测试精度要求。
语种中文
公开日期2015-05-27
源URL[http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/43536]  
专题长春光学精密机械与物理研究所_中科院长春光机所知识产出
推荐引用方式
GB/T 7714
李晓杰,任建伟,刘洪兴,等. 面阵CCD光谱响应测试及不确定度评估[J]. 激光与光电子学进展,2014(11):146-153.
APA 李晓杰,任建伟,刘洪兴,&万志.(2014).面阵CCD光谱响应测试及不确定度评估.激光与光电子学进展(11),146-153.
MLA 李晓杰,et al."面阵CCD光谱响应测试及不确定度评估".激光与光电子学进展 .11(2014):146-153.

入库方式: OAI收割

来源:长春光学精密机械与物理研究所

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