SRAM型FPGA单粒子翻转模拟系统研究
文献类型：期刊论文
| 作者 | 郑晓云 ; 王绍举 |
| 刊名 | 红外与激光工程
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| 出版日期 | 2014-12-25 |
| 期号 | S1页码:164-168 |
| 关键词 | 单粒子翻转 SRAM型FPGA 故障注入 |
| 中文摘要 | SRAM型FPGA在空间辐照环境下,容易受到单粒子效应的影响,导致FPGA存储单元发生位翻转,翻转达到一定程度会导致功能错误。为了评估FPGA对单粒子效应的敏感程度和提高FPGA抗单粒子的可靠性,对实现故障注入的关键技术进行了研究,对现有技术进行分析,设计了单粒子翻转效应敏感位测试系统,利用SRAM型FPGA部分重配置特性,采用修改FPGA配置区数据位来模拟故障的方法,加速了系统的失效过程,实现对单粒子翻转敏感位的检测和统计,并通过实验进行验证,结果表明:设计合理可行,实现方式灵活,成本低,为SRAM型FPGA抗单粒子容错设计提供了有利支持。 |
| 语种 | 中文 |
| 公开日期 | 2015-05-27 |
| 源URL | [http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/43567]  |
| 专题 | 长春光学精密机械与物理研究所_中科院长春光机所知识产出 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 郑晓云,王绍举. SRAM型FPGA单粒子翻转模拟系统研究[J]. 红外与激光工程,2014(S1):164-168. |
| APA | 郑晓云,&王绍举.(2014).SRAM型FPGA单粒子翻转模拟系统研究.红外与激光工程(S1),164-168. |
| MLA | 郑晓云,et al."SRAM型FPGA单粒子翻转模拟系统研究".红外与激光工程 .S1(2014):164-168. |
入库方式： OAI收割
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