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电子电路抗干扰及噪声问题的研究

文献类型:期刊论文

作者张泽宇
刊名硅谷
出版日期2014-11-07
期号21页码:54-55
关键词噪声 抗干扰 抑制噪声
中文摘要电子电路的理论设计在实际安装及调试过程中,受外部及内部不同因素及特定环境的影响,会暴露出许多缺陷,如:数据不准、偏差、控制失控等问题。查找原因其根源很多是干扰及噪声导致设备不稳定。本文依照理论分析,根据实际经验和专业技巧,对常规干扰及噪声做了认真的分析,采取相应的技术措施,控制和抑制干扰及噪声。
语种中文
公开日期2015-05-27
源URL[http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/43586]  
专题长春光学精密机械与物理研究所_中科院长春光机所知识产出
推荐引用方式
GB/T 7714
张泽宇. 电子电路抗干扰及噪声问题的研究[J]. 硅谷,2014(21):54-55.
APA 张泽宇.(2014).电子电路抗干扰及噪声问题的研究.硅谷(21),54-55.
MLA 张泽宇."电子电路抗干扰及噪声问题的研究".硅谷 .21(2014):54-55.

入库方式: OAI收割

来源:长春光学精密机械与物理研究所

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