可见和红外光学系统光轴平行性外场标定
文献类型：期刊论文
| 作者 | 孟庆华 |
| 刊名 | 科技创新导报
 |
| 出版日期 | 2014-03-10 |
| 期号 | 8页码:200 |
| 关键词 | 光电经纬仪 光轴平行性 外场标定 亚像素细分 |
| 中文摘要 | 光电经纬仪在外场使用一段时间后,可见和红外光学系统的光轴平行性可能发生变化,需要在外场进行标定。采用卡塞格林反射式平行光管进行子口径分束,利用平面反射镜对光束进行折转得到两束平行光。两束平行光分别对准红外和可见光学系统,利用亚像素细分技术计算质心可得到红外和可见光学系统平行性。实际结果表明:两束平行光平行性经标定后可达到1,红外和可见光学系统平行性可达到7。 |
| 语种 | 中文 |
| 公开日期 | 2015-05-27 |
| 源URL | [http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/43622]  |
| 专题 | 长春光学精密机械与物理研究所_中科院长春光机所知识产出 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 孟庆华. 可见和红外光学系统光轴平行性外场标定[J]. 科技创新导报,2014(8):200. |
| APA | 孟庆华.(2014).可见和红外光学系统光轴平行性外场标定.科技创新导报(8),200. |
| MLA | 孟庆华."可见和红外光学系统光轴平行性外场标定".科技创新导报 .8(2014):200. |
入库方式： OAI收割
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