已知晶体电子衍射指标化中的实际问题
文献类型：期刊论文
| 作者 | 施洪龙; 雒敏婷; 王文忠 |
| 刊名 | 电子显微学报
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| 出版日期 | 2015 |
| 期号 | 1页码:25-32 |
| 关键词 | 电子衍射 指标化 衍射分析 |
| 中文摘要 | 电子衍射是晶体结构分析最为常用的实验技术之一,电子衍射花样能直接反映晶体倒易点阵的特征。但利用传统方法对电子衍射花样进行指标化相当耗时、繁杂。为此,本文基于一些常用软件和DM插件对指标化过程中衍射点间距的测量、晶面间距的计算和米勒指数的指认等环节进行实例分析,对指标化过程中的一些常见问题进行可行性讨论,以期实现更为便捷的衍射分析。 |
| 源URL | [http://ir.ipe.ac.cn/handle/122111/15365]  |
| 专题 | 过程工程研究所_研究所（批量导入） |
| 作者单位 | 1.中央民族大学理学院 2.中国科学院过程工程研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 施洪龙,雒敏婷,王文忠. 已知晶体电子衍射指标化中的实际问题[J]. 电子显微学报,2015(1):25-32. |
| APA | 施洪龙,雒敏婷,&王文忠.(2015).已知晶体电子衍射指标化中的实际问题.电子显微学报(1),25-32. |
| MLA | 施洪龙,et al."已知晶体电子衍射指标化中的实际问题".电子显微学报 .1(2015):25-32. |
入库方式： OAI收割
来源：过程工程研究所
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