利用受激发射损耗（STED）显微术突破远场衍射极限
文献类型：期刊论文
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| 作者 | 陈文霞 ; 肖繁荣 ; 刘力 ; 王桂英 |
| 刊名 | 激光与光电子学进展
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| 出版日期 | 2005 |
| 卷号 | 42期号:10页码:51 |
| 关键词 | 分辨率 resolution 衍射极限 diffraction limit 受激发射损耗 stimulated emission depletion 时间特性 temporal characteristic 空间特性 spatial characteristic 光学显微术 受激发射 远场 损耗 近场光学显微镜 |
| ISSN号 | 1006-4125 |
| 其他题名 | Breaking Through the diffraction limit of far-field Optical microscopy by stimulated emission depletion (STED) |
| 中文摘要 | 远场光学显微镜受衍射极限分辩率的限制，而近场光学显微镜由于缺乏层析能力，则无法实现超分辨的三维成像，研究了既可突破远场光学显微术的衍射极限分辨率又可实现三维成像的成像技术——受激发射损耗（STED），综述了STED的分辨率与STED光的光强，延迟时间、光斑空间分布等主要参数的关系，以及该技术的最新进展和应用前景。; The resolution of far-field microscopy is limited by the diffraction limit, while near-field microscopy lacks the sectional function to image 3D pictures. The imaging technology called stimulated-emission-depletion (STED) which breaks through the diffraction limit of far-field optical microscopy and implements 3D imaging is studied. The relationships between the STED resolution and the intensity, delay time and the spatial distribution of the STED pulses are summarized and the new advances and the application prospect of STED microscopy are introduced. |
| 学科主题 | 激光技术;激光物理与基本理论 |
| 分类号 | TN24;TH742 |
| 收录类别 | 0 |
| 语种 | 中文 |
| 公开日期 | 2009-09-18 ; 2010-10-12 |
| 源URL | [http://ir.siom.ac.cn/handle/181231/402]  |
| 专题 | 上海光学精密机械研究所_强场激光物理国家重点实验室 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 陈文霞,肖繁荣,刘力,等. 利用受激发射损耗（STED）显微术突破远场衍射极限, Breaking Through the diffraction limit of far-field Optical microscopy by stimulated emission depletion (STED)[J]. 激光与光电子学进展,2005,42(10):51, 56. |
| APA | 陈文霞,肖繁荣,刘力,&王桂英.(2005).利用受激发射损耗（STED）显微术突破远场衍射极限.激光与光电子学进展,42(10),51. |
| MLA | 陈文霞,et al."利用受激发射损耗（STED）显微术突破远场衍射极限".激光与光电子学进展 42.10(2005):51. |
入库方式： OAI收割
来源：上海光学精密机械研究所
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