利用x射线激光干涉诊断等离子体电子密度
文献类型：期刊论文
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| 作者 | 王琛 ; 王伟 ; 孙今人 ; 方智恒 ; 吴江 ; 傅思祖 ; 马伟新 ; 顾援 ; 王世绩 ; 张国平 ; 郑无敌 ; 张覃鑫 ; 彭惠民 ; 邵平 ; 易葵 ; 林尊琪 ; 王占山 ; 王洪昌 ; 周斌 ; 陈玲燕 ; 金春水 |
| 刊名 | 物理学报
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| 出版日期 | 2005 |
| 卷号 | 54期号:1页码:202 |
| 关键词 | 电子密度 diagnoses of plasma electron density 激光等离子体 x-ray laser 光干涉 Mach-Zehnder interferometer x射线激光 临界面 激光驱动 干涉法 干涉条纹图 光探针 高密度 |
| ISSN号 | 1000-3290 |
| 其他题名 | Experimental diagnoses of plasma electron density by interferometry using an x-ray laser as probe |
| 中文摘要 | x射线激光探针干涉方法是诊断高温高密度激光等离子体电子密度等信息的重要工具．利用神光Ⅱ装置输出激光驱动的类镍-银x射线激光作为探针，成功地进行了马赫-曾德尔干涉法诊断实验，获得了清晰的包含等离子体信息的动态干涉条纹图像，并据此给出了待测C8H8等离子体临界面附近电子密度的空间分布。; The interferometry with. an x-ray laser as probe is an important tool of diagnosing the electron density of a high temperature and dense plasma. A successful experiment of diagnosing the density of a CH plasma was demonstrated by using a Ni-like Ag x-ray laser as a probe and a Mach-Zehnder interferometer as instrument under the ShenguangII laser facility. The legible interferogram indicating the information of electron density was obtained. |
| 学科主题 | 激光技术;激光物理与基本理论 |
| 分类号 | O436.1;TN24 |
| 收录类别 | ei |
| 语种 | 中文 |
| 公开日期 | 2009-09-18 |
| 源URL | [http://ir.siom.ac.cn/handle/181231/416]  |
| 专题 | 上海光学精密机械研究所_强场激光物理国家重点实验室 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 王琛,王伟,孙今人,等. 利用x射线激光干涉诊断等离子体电子密度, Experimental diagnoses of plasma electron density by interferometry using an x-ray laser as probe[J]. 物理学报,2005,54(1):202, 205. |
| APA | 王琛.,王伟.,孙今人.,方智恒.,吴江.,...&金春水.(2005).利用x射线激光干涉诊断等离子体电子密度.物理学报,54(1),202. |
| MLA | 王琛,et al."利用x射线激光干涉诊断等离子体电子密度".物理学报 54.1(2005):202. |
入库方式： OAI收割
来源：上海光学精密机械研究所
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