Effects of annealing temperature on the electrical property and microstructure of aluminum contact on n-type 3C–SiC
文献类型：期刊论文
| 作者 | Dai CC(代冲冲); Liu XC(刘学超); Zhou TY(周天宇); Zhuo SY(卓世异); Shi B(石彪); Shi EW(施尔畏) |
| 刊名 | Chin. Phys. B
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| 出版日期 | 2014-06-15 |
| 卷号 | 23期号:6页码:66803-1 |
| 学科主题 | 人工晶体 |
| 语种 | 英语 |
| 源URL | [http://ir.sic.ac.cn/handle/331005/6231]  |
| 专题 | 上海硅酸盐研究所_中试基地_期刊论文 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | Dai CC,Liu XC,Zhou TY,et al. Effects of annealing temperature on the electrical property and microstructure of aluminum contact on n-type 3C–SiC[J]. Chin. Phys. B,2014,23(6):66803-1. |
| APA | Dai CC,Liu XC,Zhou TY,Zhuo SY,Shi B,&Shi EW.(2014).Effects of annealing temperature on the electrical property and microstructure of aluminum contact on n-type 3C–SiC.Chin. Phys. B,23(6),66803-1. |
| MLA | Dai CC,et al."Effects of annealing temperature on the electrical property and microstructure of aluminum contact on n-type 3C–SiC".Chin. Phys. B 23.6(2014):66803-1. |
入库方式： OAI收割
来源：上海硅酸盐研究所
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