A spectroscopic method for determining thickness of quartz wave plate
文献类型：期刊论文
| 作者 | Weiwei Feng ; Lihuang Lin ; Ligang Chen ; Huafeng Zhu ; Li RX(李儒新) ; Xu ZZ(徐至展) |
| 刊名 | chin. opt. lett.
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| 出版日期 | 2006 |
| 卷号 | 4期号:12页码:705 |
| ISSN号 | 1671-7694 |
| 收录类别 | EI |
| 语种 | 英语 |
| 公开日期 | 2009-09-18 ; 2010-10-12 |
| 源URL | [http://ir.siom.ac.cn/handle/181231/754]  |
| 专题 | 上海光学精密机械研究所_强场激光物理国家重点实验室 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | Weiwei Feng,Lihuang Lin,Ligang Chen,et al. A spectroscopic method for determining thickness of quartz wave plate[J]. chin. opt. lett.,2006,4(12):705, 708. |
| APA | Weiwei Feng,Lihuang Lin,Ligang Chen,Huafeng Zhu,李儒新,&徐至展.(2006).A spectroscopic method for determining thickness of quartz wave plate.chin. opt. lett.,4(12),705. |
| MLA | Weiwei Feng,et al."A spectroscopic method for determining thickness of quartz wave plate".chin. opt. lett. 4.12(2006):705. |
入库方式： OAI收割
来源：上海光学精密机械研究所
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