单分子三维取向的探测方法
文献类型:期刊论文
作者 | 王金媛 ; 刘力 ; 王琛 ; 王桂英 |
刊名 | 激光与光电子学进展
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出版日期 | 2006 |
卷号 | 43期号:6页码:42 |
关键词 | 测量 单分子 三维取向 远场扫描光学显微术 跃迁偶极矩 |
ISSN号 | 1006-4125 |
中文摘要 | 三维取向是单分子的一个重要特性,单分子三维取向研究是近年来对单分子研究的又一热点。综述了基于远场扫描的三种探测方法,阐述了其基本原理,分析、比较了各种方法的优缺点,讨论了进行单分子三维取向检测所存在的困难和实际问题,展望了其广阔的应用领域及前景。 |
分类号 | O434.12 |
收录类别 | 0 |
语种 | 中文 |
公开日期 | 2009-09-18 ; 2010-10-12 |
源URL | [http://ir.siom.ac.cn/handle/181231/792] ![]() |
专题 | 上海光学精密机械研究所_强场激光物理国家重点实验室 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 王金媛,刘力,王琛,等. 单分子三维取向的探测方法[J]. 激光与光电子学进展,2006,43(6):42, 46. |
APA | 王金媛,刘力,王琛,&王桂英.(2006).单分子三维取向的探测方法.激光与光电子学进展,43(6),42. |
MLA | 王金媛,et al."单分子三维取向的探测方法".激光与光电子学进展 43.6(2006):42. |
入库方式: OAI收割
来源:上海光学精密机械研究所
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