X射线荧光层析
文献类型：期刊论文
| 作者 | 干慧菁 ; 高鸿奕 ; 朱化凤 ; 陈建文 ; 朱佩平 ; 冼鼎昌 |
| 刊名 | 激光与光电子学进展
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| 出版日期 | 2006 |
| 卷号 | 43期号:3页码:56 |
| 关键词 | X射线 荧光 荧光层析 重建算法 |
| ISSN号 | 1006-4125 |
| 中文摘要 | X射线荧光层析技术是利用内壳层电子跃迁所发出荧光辐射，来测定样品中的元素含量，获取样品内部的结构信息。Wolter型掠入射镜装置的元素灵敏度可以达到100个原子／cm^3，空间分辨率达到微米量级。结合康普顿散射和吸收层析进行成像可使其图像质量得到进一步的提高。而当获得了物体的投影数据以后，可采用各种重建算法来使物体得以准确重现。介绍了几种常用的重建算法，并就其特点进行了比较。 |
| 分类号 | O434.1;TH742.63 |
| 收录类别 | 0 |
| 语种 | 中文 |
| 公开日期 | 2009-09-18 ; 2010-10-12 |
| 源URL | [http://ir.siom.ac.cn/handle/181231/794]  |
| 专题 | 上海光学精密机械研究所_强场激光物理国家重点实验室 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 干慧菁,高鸿奕,朱化凤,等. X射线荧光层析[J]. 激光与光电子学进展,2006,43(3):56, 64. |
| APA | 干慧菁,高鸿奕,朱化凤,陈建文,朱佩平,&冼鼎昌.(2006).X射线荧光层析.激光与光电子学进展,43(3),56. |
| MLA | 干慧菁,et al."X射线荧光层析".激光与光电子学进展 43.3(2006):56. |
入库方式： OAI收割
来源：上海光学精密机械研究所
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