一种RFID标签工作电平的基准测试系统及方法
文献类型：专利
| 作者 | 刘禹 ; 关强; 赵健; 曾隽芳
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| 发表日期 | 2008-12-10 |
| 专利国别 | CN |
| 专利号 | CN200810239330.0 |
| 专利类型 | 发明 |
| 中文摘要 | 本发明为一种RFID标签工作电平的基准测试系统及方法，包括待测标签支架、收发及参考天线支架、收发及参考天线置于标准测试环境内；环形器、频谱分析仪、RFID信号发生器、功率计置于标准测试环境外；方法是将RFID标签芯片和天线看作整体，用电磁波在自由空间的传播公式，通过参考和收发天线测量RFID标签系统的输入和输出电平，推算能够激活RFID标签工作的最小电平，再对RFID标签的理论读取距离评估。通过对决定RFID标签性能的重要指标之一的RFID标签功耗进行科学、可重复、可比较的非接触测量，解决现有技术指标不明确、测试结果误差大的问题，为使用者根据不同应用需求选择RFID标签产品提供辅助决策依据。 |
| 公开日期 | 2010-06-23 |
| 源URL | [http://ir.ia.ac.cn/handle/173211/8378]  |
| 专题 | 自动化研究所_综合信息系统研究中心 |
| 作者单位 | 中国科学院自动化研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 刘禹,关强,赵健,等. 一种RFID标签工作电平的基准测试系统及方法. CN200810239330.0. 2008-12-10. |
入库方式： OAI收割
来源：自动化研究所
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