Measuring the fractional topological charge of LG beams by using interference intensity analysis
文献类型：期刊论文
| 作者 | Li, XZ; Tai, YP; Lv, FJ; Nie, ZG |
| 刊名 | optics communications
 |
| 出版日期 | 2015 |
| 卷号 | 334页码:235-239 |
| 收录类别 | SCI ; EI |
| WOS记录号 | WOS:000345523600043 |
| 公开日期 | 2015-12-01 |
| 源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/25539]  |
| 专题 | 西安光学精密机械研究所_瞬态光学技术国家重点实验室 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | Li, XZ,Tai, YP,Lv, FJ,et al. Measuring the fractional topological charge of LG beams by using interference intensity analysis[J]. optics communications,2015,334:235-239. |
| APA | Li, XZ,Tai, YP,Lv, FJ,&Nie, ZG.(2015).Measuring the fractional topological charge of LG beams by using interference intensity analysis.optics communications,334,235-239. |
| MLA | Li, XZ,et al."Measuring the fractional topological charge of LG beams by using interference intensity analysis".optics communications 334(2015):235-239. |
入库方式： OAI收割
来源：西安光学精密机械研究所
浏览0
下载0
收藏0
其他版本
除非特别说明，本系统中所有内容都受版权保护，并保留所有权利。