材料的表面局域电子态的测量装置以及测量方法
文献类型：专利
| 作者 | 刘争晖; 徐耿钊 ; 樊英民; 钟海舰; 徐科
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| 发表日期 | 2014-08-27 |
| 专利号 | CN102353815B |
| 专利类型 | 发明 |
| 权利人 | 中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所 |
| 申请日期 | 2011-06-30 |
| 专利申请号 | 2147483647 |
| 源URL | [http://ir.sinano.ac.cn/handle/332007/3121]  |
| 专题 | 苏州纳米技术与纳米仿生研究所_测试分析平台 |
| 作者单位 | 中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 刘争晖,徐耿钊,樊英民,等. 材料的表面局域电子态的测量装置以及测量方法. CN102353815B. 2014-08-27. |
入库方式： OAI收割
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