一种原位表征纳米线的方法
文献类型：专利
| 作者 | 王志高1; 邱永鑫1 ; 曾雄辉1; 黄增立1; 蔡德敏1; 王建峰1; 徐科1
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| 发表日期 | 2014-04-16 |
| 专利号 | CN102539462B |
| 专利类型 | 发明 |
| 权利人 | 中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所 ; 苏州纳维科技有限公司 |
| 申请日期 | 2011-11-11 |
| 专利申请号 | 2147483647 |
| 源URL | [http://ir.sinano.ac.cn/handle/332007/3128]  |
| 专题 | 苏州纳米技术与纳米仿生研究所_测试分析平台 |
| 作者单位 | 1.中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所 2.苏州纳维科技有限公司 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 王志高,邱永鑫,曾雄辉,等. 一种原位表征纳米线的方法. CN102539462B. 2014-04-16. |
入库方式： OAI收割
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