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样品位错的扫描透射电镜成像方法

文献类型:专利

作者牛牧童; 吴东昌; 张锦平; 黄凯; 张燚; 董晓鸣; 曾雄辉; 徐科
发表日期2015-09-09
专利号CN103175856B
专利类型发明
权利人中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所
申请日期2013-03-17
专利申请号2147483647
源URL[http://ir.sinano.ac.cn/handle/332007/3197]  
专题苏州纳米技术与纳米仿生研究所_测试分析平台
作者单位中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
牛牧童,吴东昌,张锦平,等. 样品位错的扫描透射电镜成像方法. CN103175856B. 2015-09-09.

入库方式: OAI收割

来源:苏州纳米技术与纳米仿生研究所

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