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机构
  • 半导体研究所 [1]
采集方式
  • OAI收割 [1]
内容类型
发表日期
  • 1998 [1]
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Triclinic deformation and anisotropic strain relaxation of an InAs film on a GaAs(001) substrate measured by a series of symmetric double crystal X-ray diffraction 期刊论文  OAI收割
journal of crystal growth, 1998, 卷号: 191, 期号: 4, 页码: 627-630
Wang HM; Zeng YP; Zhou HW; Kong MY
收藏  |  浏览/下载:52/0  |  提交时间:2010/08/12