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机构
上海光学精密机械研究... [4]
深圳先进技术研究院 [1]
采集方式
OAI收割 [5]
内容类型
会议论文 [5]
发表日期
2017 [5]
学科主题
筛选
浏览/检索结果:
共5条,第1-5条
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限定条件
存缴方式:oaiharvest
发表日期:2017
内容类型:会议论文
条数/页:
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An interferometric sensor based on visibility modulation
会议论文
OAI收割
美国洛杉矶
作者:
Zhang, Liang
;
Lu Yuanfu
;
Dong Yuming
;
Jiao Guohua
;
Chen wei
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浏览/下载:29/0
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提交时间:2018/02/02
Interference pattern period measurement at picometer level
会议论文
OAI收割
作者:
Jia, Wei
;
Wei, Chunlong
;
Xiang, Xiansong
;
Lu, Yancong
;
Li, Minkang
收藏
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浏览/下载:31/0
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提交时间:2017/12/25
Image grating metrology using phase-stepping interferometry in scanning beam interference lithography
会议论文
OAI收割
作者:
Xiang, XianSong
;
Li, Minkang
;
Wei, Chunlong
;
Jia, Wei
;
Lu, Yancong
收藏
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浏览/下载:38/0
  |  
提交时间:2017/12/25
Interference pattern period measurement at picometer level
会议论文
OAI收割
作者:
Lu, Yancong
;
Wei, Chunlong
;
Xiang, Xiansong
;
Jia, Wei
;
Zhou, Changhe
收藏
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浏览/下载:23/0
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提交时间:2017/12/25
Image grating metrology using phase-stepping interferometry in scanning beam interference lithography
会议论文
OAI收割
作者:
Li, Minkang
;
Xiang, Changcheng
;
Lu, Yancong
;
Jia, Wei
;
Wei, Chunlong
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浏览/下载:27/0
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提交时间:2017/12/25