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发表日期
  • 1994 [1]
学科主题
  • 半导体材料 [1]
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INVESTIGATION OF POROUS SILICON BY SCANNING-TUNNELING-MICROSCOPY AND ATOMIC-FORCE MICROSCOPY 期刊论文  OAI收割
journal of vacuum science & technology b, 1994, 卷号: 12, 期号: 4, 页码: 2437-2439
YU T; LAIHO R; HEIKKILA L
收藏  |  浏览/下载:19/0  |  提交时间:2010/11/15