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  • 1999 [1]
学科主题
  • 半导体材料 [1]
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Influence of crystal perfection on the reverse leakage current of the SiGe Si p-n heterojunction diodes 会议论文  OAI收割
10th international conference on molecular beam epitaxy (mbe-x), cannes, france, aug 31-sep 04, 1998
Liu XF; Liu JP; Li JP; Wang YT; Li LY; Sun DZ; Kong MY; Lin LY
收藏  |  浏览/下载:4/0  |  提交时间:2010/11/15
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