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机构
半导体研究所 [1]
采集方式
OAI收割 [1]
内容类型
会议论文 [1]
发表日期
2006 [1]
学科主题
半导体材料 [1]
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浏览/检索结果:
共1条,第1-1条
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发表日期:2006
学科主题:半导体材料
内容类型:会议论文
条数/页:
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Recent research results on deep level defects in semi-insulating InP - Application to improve material quality
会议论文
OAI收割
12th international conference on indium phosphide and related materials, princeton, nj, may 07-11, 2006
Zhao, YW (Zhao, Youwen)
;
Dong, ZY (Dong, Zhiyuan)
;
Dong, HW (Dong, Hongwei)
;
Sun, NF (Sun, Niefeng)
;
Sun, TN (Sun, Tongnian)
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浏览/下载:61/12
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提交时间:2010/03/29
STIMULATED CURRENT SPECTROSCOPY
CURRENT TRANSIENT SPECTROSCOPY
FE-DOPED INP
POINT-DEFECTS
COMPENSATION
TEMPERATURE
DONORS
TRAPS